探针式表面轮廓仪

产品介绍

探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量,与材料特性无关。可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。通过测量粗糙度和应力,可以对工艺进行量化,确定添加或去除的材料量,以及结构的任何变化。D-500提供最高1200μum垂直 量测距离,亚埃分辨率以及0.03- 15毫克的针压控制范围。具有广泛的应用范围,包括从纳米级到毫米级的台阶高度,高分辨率的粗糙度,软材料和薄膜应力等,使其能够服务于研发和生产环境中的各个行业。D-500配有140毫米的手动载台。

探针扫描

D-500:140mm的扫描载台支持长达30mm的单次量测和80mm的拼接功能。D-600: 200mm的扫描载台支持长达55 mm的单次量测和200mm的拼接功能。D-500/D-600最大垂直测量范围是1200um,针压可低至0.03 mg,可以精确量测包括薄膜、软性材料、高台阶、弯曲度和应力等多种材料及应用。

超高清镜头

D-500配备先进的光学系统,包括一个高分辨率5MP彩色相机、4倍数码变焦和增强的照明控制。

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